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便携式高灵敏度X射线荧光光谱仪 PHECDA-PROECO

2022-08-17 13:18:50 | 来源:ayx爱游戏体育平台官网 作者:ayx爱游戏体育官方网站

  全聚焦双曲面弯晶将X射线管出射谱某一特定波长单色化并聚焦衍射至样品点,因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外,不存在连续散射背景,从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。

  XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题,对于不同类型样品的定量分析带来挑战。

  基本参数法是当前X射线荧光领域的研究前沿, 快速基本参数法(Fast FP®)通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算,将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型,基本参数法充分计算X射线光产生的各种效应,减少分析误差,通过少量标准物质(或定值样品)的校正得到更为精确的元素定量结果。

  • 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA与快速基本参数法联用提供行业解决方案:

  高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力,快速基本参数法(Fast FP)提升元素精确定量水平,两项核心技术的结合,为XRF元素检测带来新的应用前景。

  高灵敏度X射线荧光光谱仪采用双曲面弯晶单色化器,优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景,提升元素荧光射线 采用高性能SDD探测器

  硅漂移探测器(SDD)是能量色散X射线荧光光谱仪的核心部件,其性能取决于晶体面积、窗口材料、计数率、分辨率等,PHECDA 系列采用当今高性能的SDD探测器,确保元素分析性能。

  (1) XRF分析的困难点是元素荧光强度不仅与样品中元素含量相关,也与其它元素含量有关,这就是所谓的基体吸收-增强效应,而这种物理效应,使得选择合适的标准样品成为困难,若选择的标准样品基体不一致、不能含盖待测样品的各元素含量范围,就会对实际样品分析带来误差。

  镉是有毒重金属,在环境保护和食品安全等领域备受关注,常规XRF对镉(Kα:23.1KeV)的激发和探测存在挑战,高灵敏度X射线荧光光谱仪通过对镉的单色化聚焦激发,对镉的检出限达到的0.06mg/kg水平。

  高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA系列与快速基本参数法(Fast FP)的强强联合,为以下行业提供完整的解决方案:

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